Dr. Michael Hanke

Senior Scientist

Michael Hanke

Telefon: +49 30 20377 287

Raum: 0616

Email: hanke@pdi-berlin.de

 

Abteilung: Microstructure

Core research areas: Nanoanalytics

 

 

41 Autor J. Lähnemann , C. Hauswald , M. Wölz , U. Jahn , M. Hanke , L. Geelhaar , O. Brandt
Titel

Localization and defects in axial (In,Ga)N/GaN nanowire heterostructures investigated by spatially-resolved luminescence spectroscopy

Source J. Phys. D: Appl. Phys. , 47 , 394010 ( 2014 )
DOI : 10.1088/0022-3727/47/39/394010 | arxiv: 1405.1507 | 2571 Cite : Bibtex RIS
J. Lähnemann, C. Hauswald, M. Wölz, U. Jahn, M. Hanke, L. Geelhaar, and O. Brandt

42 Autor F. Grosse , A. Proessdorf , M. Hanke , O. Bierwagen
Titel

In situ observation of epitaxial Li-Si-nanostructure formation on Si(111)

Source J. Phys. Chem. C , 118 , 21572 ( 2014 )
DOI : 10.1021/jp5025735 | 2556 Cite : Bibtex RIS
F. Grosse, A. Proessdorf, M. Hanke, and O. Bierwagen

43 Autor A. Proessdorf , M. Niehle , M. Hanke , F. Grosse , V. M. Kaganer , O. Bierwagen , A. Trampert
Titel

Epitaxial polymorphism of La2O3 on Si(111) studied by in situ x-ray diff raction

Source Appl. Phys. Lett. , 105 , 021601 ( 2014 )
DOI : 10.1063/1.4890107 | Download: PDF | 2581 Cite : Bibtex RIS
A. Proessdorf, M. Niehle, M. Hanke, F. Grosse, V. M. Kaganer, O. Bierwagen, and A. Trampert

44 Autor T. Schumann , M. Dubslaff , M. H. Oliveira Jr. , M. Hanke , J. M. J. Lopes , H. Riechert
Titel

The effect of the buffer layer coupling on the lattice parameter of epitaxial graphene on SiC(0001)

Source Phys. Rev. B , 90 , 041403(R) ( 2014 )
DOI : 10.1103/PhysRevB.90.041403 | Download: PDF | 2587 Cite : Bibtex RIS
T. Schumann, M. Dubslaff, M. H. Oliveira Jr., M. Hanke, J. M. J. Lopes, and H. Riechert

45 Autor T. Schumann , M. Dubslaff , M. H. Oliveira, Jr. , M. Hanke , F. Fromm , T. Seyller , L. Nemec , V. Blum , M. Scheffler , J. M. J. Lopes , H. Riechert
Titel

Structural investigation of nanocrystalline graphene grown on (6 sqrt 3 times 6 sqrt 3)R30°-reconstructed SiC surfaces by molecular beam epitaxy

Source New J. Phys. , 15 , 123034 ( 2013 )
DOI : 10.1088/1367-2630/15/12/123034 | Download: PDF | 2523 Cite : Bibtex RIS
T. Schumann, M. Dubslaff, M. H. Oliveira, Jr., M. Hanke, F. Fromm, T. Seyller, L. Nemec, V. Blum, M. Scheffler, J. M. J. Lopes, and H. Riechert

46 Autor M. Hilse , J. Herfort , B. Jenichen , A. Trampert , M. Hanke , P. Schaaf , L. Geelhaar , H. Riechert
Titel

GaAs-Fe_3Si Core-Shell Nanowires: Nanobar Magnets

Source Nano Lett. , 13 , 6203 ( 2013 )
DOI : 10.1021/nl4035994 | 2511 Cite : Bibtex RIS
M. Hilse, J. Herfort, B. Jenichen, A. Trampert, M. Hanke, P. Schaaf, L. Geelhaar, and H. Riechert

47 Autor M. Dubslaff , M. Hanke , J. Patommel , R. Hoppe , C. G. Schroer , S. Schöder , M. Burghammer
Titel

Scanning x-ray nanodiffraction: from the experimental approach towards spatially resolved scattering simulations

Source Nanoscale Res. Lett. , 7 , 553 ( 2013 )
Download: PDF | 2363 Cite : Bibtex RIS
M. Dubslaff, M. Hanke, J. Patommel, R. Hoppe, C. G. Schroer, S. Schöder, and M. Burghammer

48 Autor A. Proessdorf , M. Hanke , B. Jenichen , W. Braun , H. Riechert
Titel

Volmer-Weber growth of AlSb on Si(111)

Source Appl. Phys. Lett. , 102 , 041601 ( 2013 )
Download: PDF | 2403 Cite : Bibtex RIS
A. Proessdorf, M. Hanke, B. Jenichen, W. Braun, and H. Riechert

49 Autor F. Limbach , C. Hauswald , J. Lähnemann , M. Wölz , O. Brandt , A. Trampert , M. Hanke , U. Jahn , R. Calarco , L. Geelhaar , H. Riechert
Titel

Current path in light emitting diodes based on nanowire ensembles

Source Nanotechnology , 23 , 465301 ( 2012 )
DOI : 10.1088/0957-4484/23/46/465301 | arxiv: 1210.7144 | 2339 Cite : Bibtex RIS
F. Limbach, C. Hauswald, J. Lähnemann, M. Wölz, O. Brandt, A. Trampert, M. Hanke, U. Jahn, R. Calarco, L. Geelhaar, and H. Riechert

50 Autor M. Hanke , V. M. Kaganer , O. Bierwagen , M. Niehle , A. Trampert
Titel

Delayed crystallization of ultrathin Gd2O3 on Si(111) observed by in vivo x-ray diffraction

Source Nanoscale Res. Lett. , 7 , 203 ( 2012 )
Download: PDF | 2231 Cite : Bibtex RIS
M. Hanke, V. M. Kaganer, O. Bierwagen, M. Niehle, and A. Trampert