Dr. Taseer Anjum

Guest Scientist

Telefon: +49 30 20377 501

Raum: 0732

Email: anjum@pdi-berlin.de

 

Abteilung: Epitaxy

 

 

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1 Autor M. Al-Humaidi , L. Feigl , J. Jakob , P. Schroth , A. AlHassan , A. Davtyan , J. Herranz , T. Anjum , D. Novikov , S. Francoual , L. Geelhaar , T. Baumbach , U. Pietsch
Titel

In situ x-ray analysis of misfit strain and curvature of bent polytypic GaAs–InxGa1−xAs core–shell nanowires

Source Nanotechnology , 33 , 015601 ( 2021 )
DOI : 10.1088/1361-6528/ac29d8 | arxiv: 2105.09665 | 3270 Cite : Bibtex RIS
M. Al-Humaidi, L. Feigl, J. Jakob, P. Schroth, A. AlHassan, A. Davtyan, J. Herranz, T. Anjum, D. Novikov, S. Francoual, L. Geelhaar, T. Baumbach, and U. Pietsch

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